直讀光譜分析儀具有分析速度快，準(zhǔn)確度較高的特點(diǎn)，但對(duì)于碳、硅含量較高的鑄鐵特別是球鐵的爐前分析，存在試樣白口化及分析樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織狀態(tài)和組分之間存在的不完全一致問題。本工作將用鋼研納克SparkCCD7000直讀光譜分析儀應(yīng)用于鑄造爐前分析，針對(duì)上述兩個(gè)問題進(jìn)行了試驗(yàn)，提出了解決這兩個(gè)問題的方法。
取溫度為1400~1450度鐵液，樣品在試樣模中澆鑄，試樣凝固后取出，將底面置于水中冷卻，用砂輪磨制平整。
爐前分析采用固定曲線控制試樣法，即用標(biāo)準(zhǔn)化樣品對(duì)儀器做標(biāo)準(zhǔn)化后，再用控樣做校準(zhǔn)后，對(duì)試樣激發(fā)三點(diǎn)取平均值。
直讀光譜儀分析用的鑄鐵試樣要求分析的表面層的碳都以碳化物形式存在，不能有游離石墨，即鑄鐵的分析面必須是完全的白口組織，當(dāng)鑄鐵的表面有游離石墨存在時(shí)，就會(huì)影響激發(fā)效果，甚至使碳硫的分析成為不可能。
本法采用減薄試塊厚度鋼模有利于得到白口化鑄鐵試樣，控制消除球鐵中稀土元素鎂對(duì)硅的干擾，用直讀光譜儀分析滿足了爐前鐵液快速、準(zhǔn)確分析的需要，為提高鑄件質(zhì)量奠定了良好基礎(chǔ)。
直讀光譜儀保養(yǎng)要素
激發(fā)臺(tái)
在激發(fā)系統(tǒng)中其基本維護(hù)的部位為激發(fā)臺(tái)內(nèi)部，激發(fā)臺(tái)內(nèi)部是否清潔、電極極距是否穩(wěn)定，激發(fā)臺(tái)發(fā)光弧焰相對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)的高度等，均會(huì)影響我們的數(shù)據(jù)結(jié)果。
1、拔出廢氣管，用吸塵器清理激發(fā)腔中的灰塵；
2、使用脫脂棉沾純酒精擦拭護(hù)套；
3、清理完成，用極距規(guī)重新測(cè)量一次分析間距；
4、再用氬氣沖洗整個(gè)回路2~3分鐘，以沖掉進(jìn)入火花臺(tái)的空氣。
直讀光譜儀
干擾效應(yīng)。 干擾效應(yīng)也稱基體效應(yīng)，又稱共存元素、第三元素或伴隨物效應(yīng)，指的是在樣品中除了分析物外所有其他成分的影響，在光譜分析中能引起譜線的強(qiáng)度變化，導(dǎo)致分析結(jié)果產(chǎn)生一些誤差，這種干擾效應(yīng)是光譜分析中需要高度重視的一個(gè)問題。
分析試樣和標(biāo)樣影響。 在實(shí)際工作中，分析試樣和標(biāo)樣的冶煉過程和物理狀態(tài)存在一定的差異，所以導(dǎo)致校準(zhǔn)曲線經(jīng)常出現(xiàn)變化，一般情況下標(biāo)樣大多處于鍛造和軋制狀態(tài)，分析樣品大多處于澆鑄狀態(tài)，為有效防止試樣的冶金狀態(tài)變化影響檢測(cè)分析的結(jié)果，經(jīng)常使用的控制試樣要保證與分析試樣的冶金過程和物理狀態(tài)保持一致，對(duì)試樣的分析結(jié)果進(jìn)行準(zhǔn)確的控制。
直讀光譜儀
光電直讀光譜儀法雖然不受感光板限制，但工作曲線繪制成后，經(jīng)過一段時(shí)間曲線也會(huì)變動(dòng)。例如：透鏡的污染、對(duì)電極的玷污、溫濕度的變化、氣的影響、電源的波動(dòng)等，均能使曲線發(fā)生變化。原始曲線圖中A的位置，經(jīng)過一段時(shí)間后，曲線可能漂移到B的位置．為了使用曲線進(jìn)行分析必須設(shè)法將曲線B恢復(fù)到曲線A的位置．為此必須對(duì)工作曲線進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。在進(jìn)行曲線標(biāo)準(zhǔn)化必須注意以下幾點(diǎn)：
(1)在清洗樣品激發(fā)臺(tái)后必須先激發(fā)10次以上或通氣一個(gè)小時(shí)后才能做日常標(biāo)準(zhǔn)化工作。
(2)標(biāo)準(zhǔn)化的樣品要均勻，制樣要仔細(xì)，樣品的表面平整，紋路清淅。分析間隙準(zhǔn)確，樣品架保持清潔。
(3)標(biāo)準(zhǔn)化頻率是根據(jù)分析樣品的多少來定，一般情況一天必須標(biāo)準(zhǔn)化兩次。
以上信息由專業(yè)從事CCD光譜儀價(jià)格的鋼研納克于2024/12/22 8:51:03發(fā)布
轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明來源：http://chevaliers-et-troubadours.com/qyzx/bjgynk-2827711941.html
