連接器測(cè)試電學(xué)試驗(yàn)（電壓降測(cè)試、接觸電阻測(cè)量、絕緣測(cè)試、瞬斷測(cè)試）
機(jī)械試驗(yàn)（機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、相關(guān)力學(xué)試驗(yàn)）
環(huán)境試驗(yàn)（溫度沖擊試驗(yàn)、溫度濕度循環(huán)試驗(yàn)、高溫老化試驗(yàn)、防腐蝕強(qiáng)度試驗(yàn)）
機(jī)械試驗(yàn)（機(jī)械沖擊試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、自由跌落試驗(yàn)、外殼強(qiáng)度試驗(yàn)）
環(huán)境試驗(yàn)（低溫喚醒試驗(yàn)、高溫耐久試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、快速溫變?cè)囼?yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)、空氣熱沖擊試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、凝露試驗(yàn)）
鹽霧試驗(yàn)
密封性試驗(yàn)（防塵、防水IP等級(jí)試驗(yàn)）
1) PIL(Processer-In-Loops)處理器在環(huán)測(cè)試，目的是測(cè)試自動(dòng)生成的代碼寫入控制器后，功能實(shí)現(xiàn)上是否與模型有偏差。PIL看似無(wú)關(guān)緊要，但不做重視也會(huì)引起一些不良后果（如調(diào)度問(wèn)題、CPU Load，堆棧溢出等）
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在環(huán)測(cè)試，測(cè)試控制器完整系統(tǒng)功能，一般會(huì)搭建控制器所在系統(tǒng)的測(cè)試臺(tái)架，使用電氣元件模擬傳感器（如溫度）和執(zhí)行器（如風(fēng)扇負(fù)載）的電氣特性，驗(yàn)證完整的系統(tǒng)功能。
高溫+高濕環(huán)境耐久測(cè)試，一般在海南進(jìn)行，海水環(huán)境會(huì)加速部件腐蝕，零部件的耐久會(huì)經(jīng)受嚴(yán)格考驗(yàn)。（Ps：傳統(tǒng)車還有重要的高原測(cè)試，主要測(cè)試在低氣壓下發(fā)動(dòng)機(jī)的性能表現(xiàn)。電動(dòng)車一般不需要進(jìn)行此項(xiàng)測(cè)試。）
電池包做的比較好的都會(huì)承諾使用壽命內(nèi)的電池衰減，這些測(cè)試環(huán)節(jié)的用例來(lái)源于系統(tǒng)需求。在汽車軟件開發(fā)流程中，開發(fā)和測(cè)試成V字型進(jìn)行，俗稱軟件開發(fā)V模型，感興趣的同學(xué)可以查看汽車軟件開發(fā)流程ASPICE。
以上信息由專業(yè)從事空壓機(jī)檢測(cè)站的慧聲智創(chuàng)于2024/12/11 13:46:56發(fā)布
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