蜘蛛客社區(qū) - 商盟推薦
您好,歡迎來到蜘蛛客社區(qū)!網(wǎng)站地圖
首頁 > 儀器/儀表 > 資訊正文

共聚焦顯微鏡供應(yīng)商承諾守信 特斯特電子科技公司

發(fā)布者:蘇州特斯特 發(fā)布時(shí)間:2025-10-09 16:45:41

共聚焦顯微鏡供應(yīng)商承諾守信 特斯特電子科技公司[蘇州特斯特]內(nèi)容:

超聲波掃描顯微鏡測試分類:

按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。

按掃描方式分可分為 C掃,B掃,X掃,Z掃,分焦距掃描,分頻率掃描等多種方式

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體電子行業(yè):半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;

材料行業(yè):復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;

生物醫(yī)學(xué):細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等.

塑料封裝IC、晶片、PCB、LED

超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用范圍:

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢

非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

可分層掃描、多層掃描

實(shí)施、直觀的圖像及分析

缺陷的測量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計(jì)

可顯示材料內(nèi)部的三維圖像

對人體是沒有傷害的

可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體電子行業(yè):  半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;  材料行業(yè):復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;生物醫(yī)學(xué):細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等。 超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式:基于超聲波脈沖反射和透射模式工作的。反射模式是主要的工作模式,它的特點(diǎn)是分辨率高,對待測樣品厚度的沒有限制。透射模式只在半導(dǎo)體企業(yè)中用作器件篩選。    

EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點(diǎn)定位、尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測器,可偵測組件中電子-電洞再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來的光子,其光波長在 350 nm ~ 1100 nm,此范圍相當(dāng)于可見光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測試與檢測。

EMMI可廣泛應(yīng)用于偵測各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流,包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(yīng)(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管,可藉由EMMI定位,找熱點(diǎn)(Hot Spot 或找亮點(diǎn))位置,進(jìn)而得知缺陷原因,幫助后續(xù)進(jìn)一步的失效分析。

以上信息由專業(yè)從事共聚焦顯微鏡供應(yīng)商的蘇州特斯特于2025/3/14 16:45:41發(fā)布

轉(zhuǎn)載請注明來源:http://www.chevaliers-et-troubadours.com/qyzx/sztstdz-2848147539.html

上一條:重慶混凝土缺陷修復(fù)及裝飾來電垂詢「在線咨詢」

下一條:離子交換柱價(jià)格信賴推薦「豐億環(huán)?!?/a>

文章為作者獨(dú)立觀點(diǎn),不代表蜘蛛客社區(qū)立場。轉(zhuǎn)載此文章須經(jīng)作者同意,并附上出處及文章鏈接。

本頁面所展示的信息由企業(yè)自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負(fù)責(zé)天助分類信息行業(yè)資訊對此不承擔(dān)直接責(zé)任及連帶責(zé)任。

本網(wǎng)部分內(nèi)容轉(zhuǎn)載自其他媒體,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性。不承擔(dān)此類 作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。

粵ICP備10200857號(hào)