湖北3D顯微鏡設(shè)備即時(shí)留言「在線咨詢」[蘇州特斯特]內(nèi)容：在紅外光顯微鏡中通常使用白熾燈照明，很多白熾燈能夠發(fā)射比可見光更多的紅外光，在這里色溫是一個(gè)重要的參數(shù)。當(dāng)燈絲的溫度為24000K時(shí)，大發(fā)射是在光譜的1200nm處左右。當(dāng)溫度為33000K時(shí)，大發(fā)射在光譜的800nm處左右。使用特殊的濾光片就可以分離出所要求波長的紅外線。紅外光像的觀察和聚焦可以使用像轉(zhuǎn)換器或?qū)ｉT設(shè)計(jì)的電視掃描管來進(jìn)行。用于紅外光顯微鏡的像轉(zhuǎn)換器有兩種類型，另一種是“固體”類型，它是由一個(gè)光電導(dǎo)體層和一個(gè)電子發(fā)光層所組成，這兩者被夾在可以提供交流電的兩層薄透明導(dǎo)體層之間。相當(dāng)于真空管陽極的電子發(fā)光層，對著光電導(dǎo)體層已經(jīng)被紅外光輻射轟擊的區(qū)域發(fā)射可見光，從而形成了可見的像。另外，已經(jīng)設(shè)計(jì)制造出對直到3,500n m波長范圍都敏感的電視管。在紅外光顯微照相中可以使用經(jīng)過特殊敏感化處理的乳膠片，它在直到大約1300nm較低的紅外光區(qū)域都是敏感的。
微光顯微鏡偵測不到亮點(diǎn)之情況：不會(huì)出現(xiàn)亮點(diǎn)的故障 - 歐姆接觸；金屬互聯(lián)短路；表面反型層；硅導(dǎo)電通路等。亮點(diǎn)被遮蔽之情況 - Buried Juncti及Leakage sites under metal，這種情況可以采用backside模式，但是只能探測近紅外波段的發(fā)光，且需要減薄及拋光處理。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。
EMMI微光顯微鏡
微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，微光顯微鏡（Emission Microscope, EMMI）是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會(huì)放出光子（Photon）。如在P-N結(jié)加偏壓，此時(shí)N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱，而P的空穴也容易擴(kuò)散至N，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點(diǎn)定位、尋找近紅外波段發(fā)光點(diǎn)等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區(qū)晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發(fā)；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.
以上信息由專業(yè)從事3D顯微鏡設(shè)備的蘇州特斯特于2025/3/15 14:05:13發(fā)布
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