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超聲檢測儀器來電咨詢「在線咨詢」

發(fā)布者:蘇州特斯特 發(fā)布時間:2025-10-09 13:55:03

超聲檢測儀器來電咨詢「在線咨詢」[蘇州特斯特]內(nèi)容:紅外光顯微鏡在生物學(xué)中的應(yīng)用范圍是有限的。當(dāng)用可見光觀察不透明的某些物體時,在較溉的紅外光區(qū)域就會變得透明,這種效應(yīng)已經(jīng)被用于研究在某些昆蟲中發(fā)現(xiàn)的滲入黑色素的甲殼質(zhì)層。但是,某些有機物質(zhì)在2-30微米波長范圍內(nèi)的吸收特性實際上并沒有應(yīng)用到生物學(xué)物質(zhì)的定性和定量的顯微研究中,除了儀器和像的記錄問題而外,也由于在這種波長范圍內(nèi)分辨力的損失已經(jīng)變得十分引人注目。一個數(shù)值孔徑為0.6物鏡的小分辨距離大約與所使用的光線的波長是相等的,這就意味著使用一個這樣孔徑的反射物鏡,以波長為10μm的紅外光觀察一個直徑為10μm左右的細胞幾乎是不可能的。

對于故障分析而言,微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會放出光子(Photon)。舉例說明:在P-N 結(jié)加偏壓,此時N阱的電子很容易擴散到P阱,而P的空穴也容易擴散至N然後與P端的空穴(或N端的電子)做 EHP Recombination。

微光顯微鏡偵測不到亮點之情況:不會出現(xiàn)亮點的故障 - 歐姆接觸;金屬互聯(lián)短路;表面反型層;硅導(dǎo)電通路等。亮點被遮蔽之情況 - Buried Juncti及Leakage sites under metal,這種情況可以采用backside模式,但是只能探測近紅外波段的發(fā)光,且需要減薄及拋光處理。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測試與檢測。

EMMI可廣泛應(yīng)用于偵測各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流,包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(yīng)(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管,可藉由EMMI定位,找熱點(Hot Spot 或找亮點)位置,進而得知缺陷原因,幫助后續(xù)進一步的失效分析。

以上信息由專業(yè)從事超聲檢測儀器的蘇州特斯特于2025/3/15 13:55:03發(fā)布

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