超聲檢測(cè)儀器來電咨詢「在線咨詢」[蘇州特斯特]內(nèi)容：紅外光顯微鏡在生物學(xué)中的應(yīng)用范圍是有限的。當(dāng)用可見光觀察不透明的某些物體時(shí)，在較溉的紅外光區(qū)域就會(huì)變得透明，這種效應(yīng)已經(jīng)被用于研究在某些昆蟲中發(fā)現(xiàn)的滲入黑色素的甲殼質(zhì)層。但是，某些有機(jī)物質(zhì)在2-30微米波長(zhǎng)范圍內(nèi)的吸收特性實(shí)際上并沒有應(yīng)用到生物學(xué)物質(zhì)的定性和定量的顯微研究中，除了儀器和像的記錄問題而外，也由于在這種波長(zhǎng)范圍內(nèi)分辨力的損失已經(jīng)變得十分引人注目。一個(gè)數(shù)值孔徑為0.6物鏡的小分辨距離大約與所使用的光線的波長(zhǎng)是相等的，這就意味著使用一個(gè)這樣孔徑的反射物鏡，以波長(zhǎng)為10μm的紅外光觀察一個(gè)直徑為10μm左右的細(xì)胞幾乎是不可能的。
對(duì)于故障分析而言，微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會(huì)放出光子(Photon)。舉例說明：在P-N 結(jié)加偏壓，此時(shí)N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱，而P的空穴也容易擴(kuò)散至N然後與P端的空穴（或N端的電子）做 EHP Recombination。
微光顯微鏡偵測(cè)不到亮點(diǎn)之情況：不會(huì)出現(xiàn)亮點(diǎn)的故障 - 歐姆接觸；金屬互聯(lián)短路；表面反型層；硅導(dǎo)電通路等。亮點(diǎn)被遮蔽之情況 - Buried Juncti及Leakage sites under metal，這種情況可以采用backside模式，但是只能探測(cè)近紅外波段的發(fā)光，且需要減薄及拋光處理。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。
EMMI可廣泛應(yīng)用于偵測(cè)各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(yīng)(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管，可藉由EMMI定位，找熱點(diǎn)(Hot Spot 或找亮點(diǎn))位置，進(jìn)而得知缺陷原因，幫助后續(xù)進(jìn)一步的失效分析。
以上信息由專業(yè)從事超聲檢測(cè)儀器的蘇州特斯特于2025/3/15 13:55:03發(fā)布
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